Sinerlab lavora da anni nel campo della fluorescenza a raggi x ed ha realizzato una serie di prodotti per l'analisi dei materiali:



FLUORESCENZA A RAGGI X

La fluorescenza di raggi X è un fenomeno fisico che si basa sul fatto che quando un atomo è irradiato con radiazione elettromagnetica, di energia tipicamente dell’ordine del KeV, è in grado di assorbire un fotone incidente e di espellere un elettrone dalle shell più interne (fotoelettrone). Il riarrangiamento dei rimanenti elettroni tra i vari livelli dell’atomo comporta l’emissione di un fotone X la cui energia è caratteristica dell’atomo emettitore.
Il fenomeno fisico della fluorescenza X viene sfruttato dai moderni spettrometri per determinazioni qualitative e quantitative su campioni di varia natura. Per l’analisi quantitativa degli spettri, quello che si utilizza è il cosiddetto “metodo dei parametri fondamentali”, un algoritmo di calcolo numerico che, a partire dalla conoscenza teorica del processo fisico della fluorescenza, permette di ricavare dati quantitativi sulla composizione del campione.